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一种用于半导体激光器的金属键合方法及其半导体激光器 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106558831A, 申请日期: 2017-04-05, 公开日期: 2017-04-05
发明人:  刘兴胜;  王警卫;  邢卓;  侯栋;  李小宁;  沈泽南
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一种半导体激光器芯片测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN206057498U, 申请日期: 2017-03-29, 公开日期: 2017-03-29
发明人:  沈泽南;  刘兴胜;  张宏伟;  刘新元;  吴迪
Adobe PDF(81Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：78/0  |  提交时间：2020/01/18
一种半导体激光器芯片测试装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106124958A, 申请日期: 2016-11-16, 公开日期: 2016-11-16
发明人:  沈泽南;  刘兴胜;  张宏伟;  刘新元;  吴迪
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Thermally accelerated ageing test of 808nm high power diode laser arrays in CW mode 会议论文
2016 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2016, Wuhan, China, 2016-08-16
作者:  Nie, Zhiqiang;  Wu, Di;  Lu, Yao;  Wu, Dhai;  Wang, Shuna;  Zhang, Pu;  Xiong, Lingling;  Li, Xiaoning;  Shen, Zenan
Adobe PDF(1806Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：249/1  |  提交时间：2016/11/22
Chip Scale Packages  Defects  Degradation  Electronics Packaging  High Power Lasers  Laser Beam Welding  Power Semiconductor Diodes  Reliability  Reliability Analysis  Semiconductor Diodes  
一种半导体激光器 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN204966960U, 申请日期: 2016-01-13, 公开日期: 2016-01-13
发明人:  刘兴胜;  王警卫;  邢卓;  侯栋;  李小宁;  沈泽南
Adobe PDF(384Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：92/0  |  提交时间：2020/01/18
半导体激光器测试装置（远场） 专利
专利类型: 外观设计, 专利号: CN303451284S, 申请日期: 2015-11-18, 公开日期: 2015-11-18
发明人:  刘兴胜;  沈泽南;  刘晖
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一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN204731005U, 申请日期: 2015-10-28, 公开日期: 2015-10-28
发明人:  刘兴胜;  王昊;  刘晖;  孙翔;  沈泽南;  吴迪
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一种多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN204679249U, 申请日期: 2015-09-30, 公开日期: 2015-09-30
发明人:  刘晖;  王昊;  孙翔;  沈泽南;  吴迪;  刘兴胜
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多发光单元半导体激光器近场非线性自动测试方法及装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104897372A, 申请日期: 2015-09-09, 公开日期: 2015-09-09
发明人:  刘兴胜;  王昊;  刘晖;  孙翔;  沈泽南;  吴迪
Adobe PDF(603Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2020/01/18
多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试方法及装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN104865052A, 申请日期: 2015-08-26, 公开日期: 2015-08-26
发明人:  刘晖;  王昊;  孙翔;  沈泽南;  吴迪;  刘兴胜
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