一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置

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	一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置
其他题名	一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置
	刘兴胜; 王昊; 刘晖; 孙翔; 沈泽南; 吴迪
	2015-10-28
专利权人	西安炬光科技有限公司
公开日期	2015-10-28
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型提出了一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置，采用对半导体激光器腔面光斑进行自动识别，设有参考光作为反馈判断光进行判断实现精确调节，提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。本实用新型自动化程度高，降低由于人工操作带来的误差；本实用新型中，设有参考光作为反馈判断光可以实现半导体激光器腔面光斑自动化识别并可以进行判断实现精确调节，提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。
其他摘要	本实用新型提出了一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置，采用对半导体激光器腔面光斑进行自动识别，设有参考光作为反馈判断光进行判断实现精确调节，提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。本实用新型自动化程度高，降低由于人工操作带来的误差；本实用新型中，设有参考光作为反馈判断光可以实现半导体激光器腔面光斑自动化识别并可以进行判断实现精确调节，提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。
主权项	一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置，其特征在于：包括多发光单元半导体激光器，快轴准直镜，分光镜，成像系统，图像传感器M，图像传感器N，工控机，自动调节架；所述的快轴准直镜固定在自动调节架上并设置在多发光单元半导体激光器的出光方向；所述的分光镜设置在快轴准直镜的后端，将多发光单元半导体激光器经快轴准直镜准直后的光束进行分光，形成光束B和参考光束A；所述的图像传感器M与工控机进行连接并设置在参考光束A出射方向用于采集参考光束A的图样；所述的成像系统设置在光束B的出射方向用于对光束B 进行成像，图像传感器N与工控机进行连接并设置在成像系统后端用于采集光束B的图样；所述的工控机用于控制图像传感器M，图像传感器N并控制自动调节架。
申请日期	2015-06-09
专利号	CN204731005U
专利状态	失效
申请号	CN201520390044.X
公开（公告）号	CN204731005U
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/46576
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安炬光科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘兴胜,王昊,刘晖,等. 一种多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试装置. CN204731005U[P]. 2015-10-28.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN204731005U.PDF（523KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文