Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试方法及装置 | |
| 其他题名 | 多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试方法及装置 |
刘晖; 王昊; 孙翔; 沈泽南; 吴迪 ; 刘兴胜
| |
| 2015-08-26 | |
| 专利权人 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 公开日期 | 2015-08-26 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 本发明提出了多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试方法和装置，可以同时表征半导体激光器在快慢轴两个方向上的光斑分析，能够同时获取快慢轴两个方向上的发光点强度和相对位置信息。本发明结构简单，可靠性高，能够直接获取半导体激光器空间光束轮廓图样，同时表征半导体激光器在快慢轴方向上的腔面强度分布和各个发光的空间相对位置，为定性和定量地分析半导体激光器内部及封装中的缺陷、热、应力等因素对半导体激光器输出特性的影响提供指导，能够为研制高性能半导体激光器提供指导。 |
| 其他摘要 | 本发明提出了多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试方法和装置，可以同时表征半导体激光器在快慢轴两个方向上的光斑分析，能够同时获取快慢轴两个方向上的发光点强度和相对位置信息。本发明结构简单，可靠性高，能够直接获取半导体激光器空间光束轮廓图样，同时表征半导体激光器在快慢轴方向上的腔面强度分布和各个发光的空间相对位置，为定性和定量地分析半导体激光器内部及封装中的缺陷、热、应力等因素对半导体激光器输出特性的影响提供指导，能够为研制高性能半导体激光器提供指导。 |
| 申请日期 | 2015-06-09 |
| 专利号 | CN104865052A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN201510309795.9 |
| 公开（公告）号 | CN104865052A |
| IPC 分类号 | G01M11/02 | G01J11/00 |
| 专利代理人 | - |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92947 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘晖,王昊,孙翔,等. 多发光单元半导体激光器空间光束轮廓的测试方法及装置. CN104865052A[P]. 2015-08-26. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN104865052A.PDF（649KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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