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多发光单元半导体激光器近场非线性自动测试方法及装置
其他题名多发光单元半导体激光器近场非线性自动测试方法及装置
刘兴胜; 王昊; 刘晖; 孙翔; 沈泽南; 吴迪
2015-09-09
专利权人西安炬光科技股份有限公司
公开日期2015-09-09
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明提出了多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试方法及装置,采用对半导体激光器腔面光斑进行自动识别,设有参考光作为反馈判断光进行判断实现精确调节,提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。本发明自动化程度高,降低由于人工操作带来的误差;本发明中,设有参考光作为反馈判断光可以实现半导体激光器腔面光斑自动化识别并可以进行判断实现精确调节,提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。
其他摘要本发明提出了多发光单元半导体激光器近场非线性自动化测试方法及装置,采用对半导体激光器腔面光斑进行自动识别,设有参考光作为反馈判断光进行判断实现精确调节,提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。本发明自动化程度高,降低由于人工操作带来的误差;本发明中,设有参考光作为反馈判断光可以实现半导体激光器腔面光斑自动化识别并可以进行判断实现精确调节,提高了多发光单元半导体激光器近场非线性的准确性。
申请日期2015-06-09
专利号CN104897372A
专利状态授权
申请号CN201510313232.7
公开(公告)号CN104897372A
IPC 分类号G01M11/02
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85558
专题半导体激光器专利数据库
作者单位西安炬光科技股份有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
刘兴胜,王昊,刘晖,等. 多发光单元半导体激光器近场非线性自动测试方法及装置. CN104897372A[P]. 2015-09-09.
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