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High-side mode suppression ratio with a high-stability external-cavity diode laser array at 976 nm in a wide temperature and current range 期刊论文
Optics Communications, 2021, 卷号: 486
作者:  Liu, Bin;  Liu, Hui;  Zhu, Pengfei;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(1709Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：160/2  |  提交时间：2021/02/08
External cavity  Diode laser  VBG  SMSR  
Reduction of beam divergence angle in laser-diode arrays with large smiles using a dual-beam transformation system 期刊论文
OPTICS COMMUNICATIONS, 2020, 卷号: 462
作者:  Liu, Bin;  Liu, Hui;  Chen, Fenning;  Li, Haiyan;  Gao, Lei;  Zhu, Pengfei;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(1761Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：200/2  |  提交时间：2020/04/13
Diode laser array  Smile correction  Beam shaping  Optical system design  
Wavelength locking in a large-smile diode-laser array using dual-beam transformation systems 期刊论文
Applied Optics, 2020, 卷号: 59, 期号: 11, 页码: 3399-3403
作者:  Liu, Bin;  Liu, Hui;  Chen, Fenning;  Li, Haiyan;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(799Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：173/2  |  提交时间：2020/04/27
一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104515592B, 申请日期: 2017-07-14, 公开日期: 2017-07-14
发明人:  刘晖;  袁治远;  崔龙;  王昊;  吴迪;  刘兴胜
Adobe PDF(111Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：70/0  |  提交时间：2020/01/18
一种用于半导体光源的远场三维强度的表征装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104596639B, 申请日期: 2017-04-19, 公开日期: 2017-04-19
发明人:  刘晖;  袁治远;  崔龙;  王昊;  吴迪;  刘兴胜
Adobe PDF(150Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：55/0  |  提交时间：2019/12/24
半导体激光器测试系统 专利
专利类型: 外观设计, 专利号: CN303490424S, 申请日期: 2015-12-09, 公开日期: 2015-12-09
发明人:  刘兴胜;  刘晖;  王昊
Adobe PDF(131Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2020/01/18
半导体激光器测试系统设备（空间轮廓） 专利
专利类型: 外观设计, 专利号: CN303451389S, 申请日期: 2015-11-18, 公开日期: 2015-11-18
发明人:  刘兴胜;  孙翔;  刘晖
Adobe PDF(147Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/26
半导体激光器测试装置（远场） 专利
专利类型: 外观设计, 专利号: CN303451284S, 申请日期: 2015-11-18, 公开日期: 2015-11-18
发明人:  刘兴胜;  沈泽南;  刘晖
Adobe PDF(163Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2019/12/26
折射型高功率半导体激光器阵列光束整形装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN103278928B, 申请日期: 2015-11-18, 公开日期: 2015-11-18
发明人:  黄志华;  刘兴胜;  熊玲玲;  张普;  王贞福;  刘晖
Adobe PDF(826Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2020/01/18
半导体激光器测试系统（近场非线性） 专利
专利类型: 外观设计, 专利号: CN303422411S, 申请日期: 2015-10-28, 公开日期: 2015-10-28
发明人:  刘兴胜;  王昊;  刘晖
Adobe PDF(507Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/24