一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置

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	一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置
其他题名	一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置
	刘晖; 袁治远; 崔龙; 王昊; 吴迪; 刘兴胜
	2017-07-14
专利权人	西安炬光科技股份有限公司
公开日期	2017-07-14
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明提供一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置，能够探测半导体光源真实的远场三维强度分布。该快速表征装置主要包括光电探测器、固定支架、摆动组件及其驱动电机，所述摆动组件包括固定连接的摆动部和驱动部，驱动部安装于固定支架上；所述摆动部的主体为半圆弧，半圆弧上均匀布置有多个导光部件并汇集成束接至所述光电探测器，半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。本发明结构简明，可靠性高，不存在旋转臂之间相互干涉现象，能够快速完成半导体激光器辐射强度真实的空间三维分布表征。
其他摘要	本发明提供一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置，能够探测半导体光源真实的远场三维强度分布。该快速表征装置主要包括光电探测器、固定支架、摆动组件及其驱动电机，所述摆动组件包括固定连接的摆动部和驱动部，驱动部安装于固定支架上；所述摆动部的主体为半圆弧，半圆弧上均匀布置有多个导光部件并汇集成束接至所述光电探测器，半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。本发明结构简明，可靠性高，不存在旋转臂之间相互干涉现象，能够快速完成半导体激光器辐射强度真实的空间三维分布表征。
申请日期	2014-12-20
专利号	CN104515592B
专利状态	授权
申请号	CN201410808753.5
公开（公告）号	CN104515592B
IPC 分类号	G01J1/00
专利代理人	胡乐
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85803
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安炬光科技股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘晖,袁治远,崔龙,等. 一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置. CN104515592B[P]. 2017-07-14.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN104515592B.PDF（111KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文