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一种低温环境下光学元件面形测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010710573.9, 申请日期: 2021-09-14, 公开日期: 2021-09-14
发明人:  鄂可伟;  赵建科;  周艳;  田留德;  王亚军;  薛勋;  李晶;  刘尚阔
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干涉型成像光谱仪内方位元素及畸变标定方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010461031.2, 申请日期: 2021-09-14, 公开日期: 2021-09-14
发明人:  刘尚阔;  周艳;  赵建科;  曹昆;  李晶;  田留德;  李坤;  薛勋
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平行光管离焦像差实时校正方法及装置 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010430458.6, 申请日期: 2021-04-20, 公开日期: 2021-04-20
发明人:  刘尚阔;  曹昆;  周艳;  李晶;  宋琦;  王争锋;  田留德;  赵建科
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光学镜头焦平面与机械安装面位置关系检测装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010460990.2, 申请日期: 2021-04-20, 公开日期: 2021-04-20
发明人:  刘尚阔;  周艳;  赵建科;  李晶;  曹昆;  田留德;  李坤;  薛勋
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平行光管离焦像差标定装置 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010431340.5, 申请日期: 2020-05-20, 公开日期: 2020-09-11
发明人:  刘尚阔;  赵建科;  周艳;  曹昆;  李晶;  田留德;  李坤
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光电经纬仪光学系统变形测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201821544393.2, 申请日期: 2019-05-31, 公开日期: 2019-05-31
发明人:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201811100735.6, 申请日期: 2018-09-20, 公开日期: 2019-01-11
发明人:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
Adobe PDF(842Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:136/0  |  提交时间:2019/09/03