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光电经纬仪光学系统变形测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201821544393.2, 申请日期: 2019-05-31, 公开日期: 2019-05-31
Inventors:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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PST测试与极弱目标模拟系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201820960177.X, 申请日期: 2019-01-04, 公开日期: 2019-01-04
Inventors:  薛勋;  赵建科;  刘尚阔;  李坤;  曹昆;  昌明;  李晶;  张洁;  胡丹丹;  赛建刚;  王争锋;  宋琦;  鄂可伟;  徐亮
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用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201811633257.5, 申请日期: 2018-12-29, 公开日期: 2019-07-09
Inventors:  昌明;  赵建科;  刘峰;  郭梁;  乔卫东;  曹昆;  薛勋;  李晶;  李跃;  巩立
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一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201810245491.4, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-14
Inventors:  昌明;  赵建科;  李晶;  薛勋;  曹昆;  胡丹丹
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一种点目标探测相机焦面对接系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201810597325.0, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-10-19
Inventors:  李坤;  刘尚阔;  赵建科;  薛勋;  曹昆
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一种点目标探测相机焦面对接系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201820898768.9, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-12-21
Inventors:  李坤;  刘尚阔;  赵建科;  薛勋;  曹昆
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一种均匀光源角均匀性测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201820809288.0, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-12-21
Inventors:  昌明;  赵建科;  薛勋;  周艳;  李晶;  曹昆;  胡丹丹;  宋琦
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一种均匀光源角均匀性测试装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201810521754.X, 申请日期: 2018-11-09, 公开日期: 2018-11-09
Inventors:  昌明;  赵建科;  薛勋;  周艳;  李晶;  曹昆;  胡丹丹;  宋琦
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一种大口径均匀光源的均匀性测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201820401439.9, 申请日期: 2018-10-26, 公开日期: 2018-10-26
Inventors:  昌明;  赵建科;  李晶;  薛勋;  曹昆;  胡丹丹
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光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201811100735.6, 申请日期: 2018-09-20, 公开日期: 2019-01-11
Inventors:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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