| 光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统 | |
赵怀学; 周艳 ; 田留德; 赵建科; 薛勋; 潘亮; 胡丹丹; 刘艺宁; 张洁; 曹昆; 李坤; 赛建刚; 昌明
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| 2018-09-20 | |
| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2019-01-11 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 摘要 | 本发明涉及光学系统变形量测试领域，具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成，测试时，将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上，每调整一次光电经纬仪的俯仰角度，记录一次目标脱靶量，最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线，旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下，光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量，提高光电经纬仪指向精度。 |
| 主权项 | 一种光电经纬仪光学系统变形测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一、将目标模拟器固定在待测光电经纬仪上，且使得目标模拟器位于待测光电经纬仪的视场范围内，待测光电经纬仪识别目标模拟器并判读目标模拟器位置； 步骤二、调整待测光电经纬仪的俯仰角，每调整一次俯仰角，待测光电经纬仪判读目标模拟器位置，记录待测光电经纬仪目标脱靶量； 步骤三、结合最小二乘法，利用不同俯仰角下的目标脱靶量，拟合待测光电经纬仪变形量曲线。 |
| 申请日期 | 2018-09-20 |
| 专利号 | CN201811100735.6 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 申请中 |
| 申请号 | CN201811100735.6 |
| 公开（公告）号 | CN109186537A |
| IPC 分类号 | G01C1/02 ; G01C25/00 |
| 专利代理人 | 汪海艳 |
| 代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31779 |
| 专题 | 检测技术研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵怀学,周艳,田留德,等. 光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统. CN201811100735.6[P]. 2018-09-20. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统.p（842KB） | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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