OPT OpenIR  > 检测技术研究中心
光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统
赵怀学; 周艳; 田留德; 赵建科; 薛勋; 潘亮; 胡丹丹; 刘艺宁; 张洁; 曹昆; 李坤; 赛建刚; 昌明
2018-09-20
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2019-01-11
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及光学系统变形量测试领域,具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成,测试时,将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上,每调整一次光电经纬仪的俯仰角度,记录一次目标脱靶量,最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线,旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下,光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量,提高光电经纬仪指向精度。
主权项一种光电经纬仪光学系统变形测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一、将目标模拟器固定在待测光电经纬仪上,且使得目标模拟器位于待测光电经纬仪的视场范围内,待测光电经纬仪识别目标模拟器并判读目标模拟器位置; 步骤二、调整待测光电经纬仪的俯仰角,每调整一次俯仰角,待测光电经纬仪判读目标模拟器位置,记录待测光电经纬仪目标脱靶量; 步骤三、结合最小二乘法,利用不同俯仰角下的目标脱靶量,拟合待测光电经纬仪变形量曲线。
申请日期2018-09-20
专利号CN201811100735.6
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201811100735.6
公开(公告)号CN109186537A
IPC 分类号G01C1/02 ; G01C25/00
专利代理人汪海艳
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31779
专题检测技术研究中心
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
赵怀学,周艳,田留德,等. 光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统. CN201811100735.6[P]. 2018-09-20.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统.p(842KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[赵怀学]的文章
[周艳]的文章
[田留德]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[赵怀学]的文章
[周艳]的文章
[田留德]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[赵怀学]的文章
[周艳]的文章
[田留德]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。