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传导冷却高功率半导体激光器单巴器件CW工作模式下的热加速寿命试验 期刊论文
发光学报, 2019, 卷号: 40, 期号: 9, 页码: 1136-1145
作者:  聂志强;  王明培;  孙玉博;  李小宁;  吴迪
Adobe PDF(2735Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：217/3  |  提交时间：2019/10/28
高功率半导体激光器  热加速寿命测试  可靠性  退化  
基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究 期刊论文
红外与激光工程, 2019, 卷号: 48, 期号: S1
作者:  聂志强;  王明培;  孙玉博;  李小宁;  吴迪
Adobe PDF(2064Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：189/2  |  提交时间：2019/07/08
Thermal Stress and Smile of Conduction-cooled High Power Semiconductor Laser Arrays 期刊论文
Guangzi Xuebao/Acta Photonica Sinica, 2017, 卷号: 46, 期号: 9
作者:  Lu, Yao;  Nie, Zhi-Qiang;  Chen, Tian-Qi;  Zhang, Pu;  Xiong, Ling-Ling;  Wu, Di-Hai;  Li, Xiao-Ning;  Wang, Zhen-Fu;  Liu, Xing-Sheng;  Nie, Zhi-Qiang (niezq@opt.ac.cn)
Unknown(4848Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：197/2  |  提交时间：2017/12/30
Thermally accelerated ageing test of 808nm high power diode laser arrays in CW mode 会议论文
2016 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2016, Wuhan, China, 2016-08-16
作者:  Nie, Zhiqiang;  Wu, Di;  Lu, Yao;  Wu, Dhai;  Wang, Shuna;  Zhang, Pu;  Xiong, Lingling;  Li, Xiaoning;  Shen, Zenan
Adobe PDF(1806Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：221/1  |  提交时间：2016/11/22
Chip Scale Packages  Defects  Degradation  Electronics Packaging  High Power Lasers  Laser Beam Welding  Power Semiconductor Diodes  Reliability  Reliability Analysis  Semiconductor Diodes  
Influence of temperature on “Smile” in high power diode laser bars 期刊论文
Guangzi Xuebao/Acta Photonica Sinica, 2016, 卷号: 45, 期号: 5
作者:  Wang, Shu-Na;  Zhang, Pu;  Xiong, Ling-Ling;  Nie, Zhi-Qiang;  Wu, Di-Hai;  Liu, Xing-Sheng
Adobe PDF(568Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：228/2  |  提交时间：2016/10/14
Diodes  Heat Sinks  Lasers  Power Semiconductor Diodes  Semiconductor Lasers  Temperature  Thermal Stress