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Theoretical and experimental study on responsivity of ultra-fast X-ray semiconductor chip based on the rad-optic effect 期刊论文
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 2023, 卷号: 1049
作者:  Yan, Xin;  Wang, Tao;  Wang, Gang;  Yao, Dong;  Liu, Yiheng;  Gao, Guilong;  Xin, Liwei;  Yin, Fei;  Tian, Jinshou;  Chang, Xinlong;  He, Kai
Adobe PDF(2250Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：139/1  |  提交时间：2023/02/28
X-ray detector  Rad-optic effect  Ultrafast response semiconductor material  Responsivity  Ultrafast measurements  
Theoretical and experimental study on Noise Equivalent Power of X-ray semiconductor ultra-fast response material based on the rad-optic effect 预印本
2022
作者:  Yan, Xin;  Wang, Tao;  Wang, Gang;  Yao, Dong;  Liu, Yiheng;  Gao, Guilong;  Xin, Liwei;  Yin, Fei;  Tian, Jinshou;  Chang, Xinlong;  He, Kai
Adobe PDF(1169Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：104/3  |  提交时间：2022/08/23
辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011459774.2, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-04-02
发明人:  姚东;  高贵龙;  尹飞;  闫欣;  辛丽伟;  何凯;  汪韬;  田进寿
Adobe PDF(306Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：158/10  |  提交时间：2021/11/29
一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020651280.3, 申请日期: 2021-01-15,
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  高贵龙;  何凯;  田进寿
Adobe PDF(484Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：33/1  |  提交时间：2023/11/24
一种X射线超快检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020417572.0, 申请日期: 2020-12-25,
发明人:  尹飞;  汪韬;  高贵龙;  何凯;  闫欣;  田进寿
Adobe PDF(366Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2023/11/30
用于ICF芯部自发光关键过程的全光固体超快成像系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011544173.1, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-04-13
发明人:  高贵龙;  何凯;  闫欣;  汪韬;  田进寿;  尹飞;  辛丽伟;  王刚;  刘毅恒;  姚东;  李知兵;  张杰;  吴永程;  刘冲;  薛彦华
Adobe PDF(545Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：131/8  |  提交时间：2021/11/29
一种实时三维显微成像装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011156312.3, 申请日期: 2020-10-26, 公开日期: 2021-03-16
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  何凯;  高贵龙;  田进寿
Adobe PDF(545Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：229/7  |  提交时间：2021/11/25
X射线全光固体超快探测芯片调制光栅的制备方法及光栅 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910150687.X, 申请日期: 2020-07-31, 公开日期: 2020-07-31
发明人:  闫欣;  高贵龙;  何凯;  汪韬;  田进寿;  钟梓源;  尹飞;  李少辉;  辛丽伟;  刘虎林
Adobe PDF(426Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：230/11  |  提交时间：2020/12/02
一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010339529.1, 申请日期: 2020-04-26, 公开日期: 2020-07-24
发明人:  尹飞;  汪韬;  闫欣;  高贵龙;  何凯;  田进寿
Adobe PDF(704Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：131/7  |  提交时间：2021/11/17
高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010280601.8, 申请日期: 2020-04-10, 公开日期: 2020-08-21
发明人:  高贵龙;  何凯;  闫欣;  汪韬;  尹飞;  田进寿;  辛丽伟;  贾祥志;  吴永程;  张杰;  刘冲;  李少辉;  刘毅恒
Adobe PDF(560Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：118/11  |  提交时间：2021/11/16