Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法 | |
姚东; 高贵龙; 尹飞 ; 闫欣; 辛丽伟; 何凯; 汪韬; 田进寿
| |
| 2021-10-15 | |
| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2021-04-02 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 摘要 | 本发明涉及粘接界面状态的原位表征方法，具体涉及一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。本发明的目的是解决现有方法中存采用射线探伤方法时，依赖辐射源等大型专用设备，服役现场的展开受到空间限制，使用便利性不足，采用超声探伤方法时，辐照条件下对人员防护要求高且难以满足长期使用的要求，采用结构动力学分析时，传感器及其粘贴用胶粘剂的辐射耐受性需专门研究的技术问题，提供一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。该方法以涉及辐照条件的核电设备等为主要应用对象，通过粘接界面取样、典型状态的标定、服役现场非接触原位检测等步骤，实现了非接触、无人化、简单、安全可靠、及时的粘接界面状态表征。 |
| 申请日期 | 2020-12-11 |
| 专利号 | CN202011459774.2 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 授权 |
| 公开（公告）号 | CN112595696B |
| IPC 分类号 | G01N21/63 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95513 |
| 专题 | 条纹相机工程中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 姚东,高贵龙,尹飞,等. 辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法. CN202011459774.2[P]. 2021-10-15. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法.p（306KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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