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| 一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN104515592B, 申请日期: 2017-07-14, 公开日期: 2017-07-14 发明人: 刘晖; 袁治远; 崔龙; 王昊; 吴迪; 刘兴胜 Adobe PDF(111Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:70/0  |  提交时间:2020/01/18 |
| 一种用于半导体光源的远场三维强度的表征装置 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN104596639B, 申请日期: 2017-04-19, 公开日期: 2017-04-19 发明人: 刘晖; 袁治远; 崔龙; 王昊; 吴迪; 刘兴胜 Adobe PDF(150Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:55/0  |  提交时间:2019/12/24 |
| 一种半导体激光器芯片测试装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN206057498U, 申请日期: 2017-03-29, 公开日期: 2017-03-29 发明人: 沈泽南; 刘兴胜; 张宏伟; 刘新元; 吴迪 Adobe PDF(81Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:50/0  |  提交时间:2020/01/18 |
| 一种半导体激光器芯片测试装置 专利 专利类型: 发明申请, 专利号: CN106124958A, 申请日期: 2016-11-16, 公开日期: 2016-11-16 发明人: 沈泽南; 刘兴胜; 张宏伟; 刘新元; 吴迪 Adobe PDF(80Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:70/0  |  提交时间:2020/01/13 |
| 半导体激光器LIV特性测试仪器 专利 专利类型: 外观设计, 专利号: CN303346413S, 申请日期: 2015-08-26, 公开日期: 2015-08-26 发明人: 袁治远; 吴迪; 刘晖; 崔龙 Adobe PDF(400Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:43/0  |  提交时间:2019/12/26 |
| 半导体激光器LIV特性测试仪器 专利 专利类型: 外观设计, 专利号: CN303346413S, 申请日期: 2015-08-26, 公开日期: 2015-08-26 发明人: 袁治远; 吴迪; 刘晖; 崔龙 Adobe PDF(400Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:42/0  |  提交时间:2019/12/26 |
| 一种用于半导体光源的远场三维强度的表征装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN204439208U, 申请日期: 2015-07-01, 公开日期: 2015-07-01 发明人: 刘晖; 袁治远; 崔龙; 王昊; 吴迪; 刘兴胜 Adobe PDF(547Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:54/0  |  提交时间:2020/01/18 |
| 一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN204346582U, 申请日期: 2015-05-20, 公开日期: 2015-05-20 发明人: 刘晖; 袁治远; 崔龙; 王昊; 吴迪; 刘兴胜 Adobe PDF(366Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:52/0  |  提交时间:2019/12/26 |