×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
登录
中文版
|
English
中国科学院西安光学精密机械研究所机构知识库
Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
学科领域
关键词
资助项目
文献类型
出处
收录类别
出版者
发表日期
存缴日期
学科门类
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
新闻&公告
在结果中检索
研究单元&专题
瞬态光学研究室 [3]
光电子学研究室 [1]
飞行器光学成像与测量... [1]
月球与深空探测技术研... [1]
作者
张普 [1]
刘兴胜 [1]
盛立志 [1]
朊萍 [1]
高立民 [1]
李福 [1]
更多...
文献类型
会议论文 [6]
发表日期
2020 [6]
语种
英语 [6]
出处
Space Tele... [2]
2020 22nd ... [1]
AOPC 2020:... [1]
Components... [1]
Proceeding... [1]
资助项目
收录类别
EI [6]
CPCI [5]
资助机构
×
知识图谱
OPT OpenIR
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共6条,第1-6条
帮助
限定条件
发表日期:2020
文献类型:会议论文
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
题名升序
题名降序
Designing time and frequency entanglement for generation of high-dimensional photon cluster states
会议论文
2020 22nd International Conference on Transparent Optical Networks, ICTON 2020, Bari, Italy, 2020-07-19
作者:
Roztocki, Piotr
;
Chemnitz, Mario
;
Maclellan, Benjamin
;
Sciara, Stefania
;
Reimer, Christian
;
Islam, Mehedi
;
Cortes, Luis Romero
;
Zhang, Yanbing
;
Fisher, Bennet
;
Loranger, Sebastien
;
Kashyap, Raman
;
Cino, Alfonso
;
Chu, Sai T.
;
Little, Brent E.
;
Moss, David J.
;
Caspani, Lucia
;
Munro, William J.
;
Azana, Jose
;
Kues, Michael
;
Morandotti, Roberto
Adobe PDF(393Kb)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:139/1
  |  
提交时间:2020/11/04
Research on ultra-smooth collimation separation of silicon wafer by multiple lasers
会议论文
Proceedings - 2020 3rd International Conference on Electron Device and Mechanical Engineering, ICEDME 2020, Suzhou, China, 2020-05-01
作者:
Youwang, Hu
;
Ming, Li
;
Qinqin, Xie
;
Xiaoyan, Sun
Adobe PDF(328Kb)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:111/1
  |  
提交时间:2020/07/28
silicon wafer
laser
thermal cracking
prefabricated crack
Large diameter optics support optimization based on finite element method and optical surface fitting with zernike method
会议论文
AOPC 2020: Optics Ultra Precision Manufacturing and Testing, Shanghai, China, 2020-06-29
作者:
Liang-Xiao, Zhao
;
Jian, Zhang
;
San-Feng, Hao
;
Li-Min, Gao
Adobe PDF(1136Kb)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:106/0
  |  
提交时间:2021/03/04
Large diameter optics mirror
Support optimization
Finite element method
Optical surface fitting
Temperature distribution induced spectral broadening of high-power diode lasers
会议论文
Components and Packaging for Laser Systems VI, San Francisco, CA, United states, 2020-02-03
作者:
Wu, DI-Hai
;
Zhang, Pu
;
Liu, Bin
;
Zah, Chung-En
;
Liu, Xingsheng
Adobe PDF(1435Kb)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:158/1
  |  
提交时间:2020/05/18
High-power diode lasers
spectral power distribution (SPD)
spectral broadening
temperature distribution
Mapping diffuse emission in lyman UV band
会议论文
Space Telescopes and Instrumentation 2020: Ultraviolet to Gamma Ray, Virtual, Online, CA, United states, 2020-12-14
作者:
Ji, Li
;
Lou, Zheng
;
Zhang, Jinlong
;
Qiu, Keqiang
;
Li, Shuangying
;
Sun, Wei
;
Yan, Shuping
;
Shuinai, Zhang
;
Qian, Yuan
;
Wang, Sen
;
Werner, Klaus
;
Fang, Taotao
;
Wang, Tinggui
;
Barnstedt, Jürgen
;
Buntrock, Sebastian
;
Cai, Mingsheng
;
Chen, Wen
;
Conti, Lauro
;
Deng, Lei
;
Diebold, Sebastian
;
Fu, Shaojun
;
Guo, Jianhua
;
Hanke, Lars
;
Hong, Yilin
;
Kalkuhl, Christoph
;
Kappelmann, Norbert
;
Kaufmann, Thomas
;
Lei, Shijun
;
Li, Fu
;
Li, Xinfeng
;
Liu, Wei
;
Meyer, Kevin
;
Rauch, Thomas
;
Ruan, Ping
;
Schaadt, Daniel M.
;
Schanz, Thomas
;
Song, Qian
;
Stelzer, Beate
;
Wang, Zhanshan
;
Yang, Jianfeng
;
Zhang, Wei
Adobe PDF(1510Kb)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:177/0
  |  
提交时间:2021/02/05
Small Explorer
ultraviolet
line emission
Investigating the effect of source contamination on eXTP/SFA
会议论文
Space Telescopes and Instrumentation 2020: Ultraviolet to Gamma Ray, Virtual, Online, CA, United states, 2020-12-14
作者:
Zhang, Juan
;
Li, Gang
;
Ge, Mingyu
;
Kirsch, Christian
;
Lorenz, Maximilian
;
Wilms, Joern
;
Qi, Liqiang
;
Sheng, Lizhi
;
Yang, Yi-Jung
;
Dauser, Thomas
;
Xu, Yupeng
;
Lu, Fangju
;
Yang, Yanji
;
Wang, Yusa
;
Chen, Yong
Adobe PDF(10963Kb)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:132/1
  |  
提交时间:2021/02/05
eXTP/SFA
nearby source
contamination