中文版 | English

在结果中检索

OPT OpenIR
（本次检索基于用户作品认领结果）

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

限定条件            
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Easy method to measure the packaging-induced stress of a semiconductor laser diode by lasing wavelength shifting 期刊论文
Applied Optics, 2019, 卷号: 58, 期号: 24, 页码: 6672-6677
作者:  Zhang, Hongyou;  Fu, Tuanwei;  Zah, Chung-En;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(794Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：191/3  |  提交时间：2019/09/02
Experimental and theoretical analysis of the effect of packaging induced thermal stress on high-power laser diode arrays 会议论文
High-Power Diode Laser Technology XVII, San Francisco, CA, United states, 2019-02-03
作者:  Zhang, Hongyou;  Zah, Chung-En;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(736Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：139/2  |  提交时间：2019/07/08
Thermal stress  laser diode array  SMILE effect  spectrum