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Easy method to measure the packaging-induced stress of a semiconductor laser diode by lasing wavelength shifting 期刊论文
Applied Optics, 2019, 卷号: 58, 期号: 24, 页码: 6672-6677
作者:  Zhang, Hongyou;  Fu, Tuanwei;  Zah, Chung-En;  Liu, Xingsheng
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High-power low-smile vertically-stacked laser diode based on microchannel cooling 会议论文
Semiconductor Lasers and Applications IX, Hangzhou, China, 2019-10-21
作者:  Zhang, Hongyou;  Cai, Lei;  Zah, Chung-En;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(835Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：122/0  |  提交时间：2020/03/04
Thermal stress  laser diode array  SMILE effect  spectrum  
Experimental and theoretical analysis of the effect of packaging induced thermal stress on high-power laser diode arrays 会议论文
High-Power Diode Laser Technology XVII, San Francisco, CA, United states, 2019-02-03
作者:  Zhang, Hongyou;  Zah, Chung-En;  Liu, Xingsheng
Adobe PDF(736Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：141/2  |  提交时间：2019/07/08
Thermal stress  laser diode array  SMILE effect  spectrum