已选(0)清除
条数/页: 排序方式: |
| 光折变X射线半导体超快响应芯片空间性能的实验研究 期刊论文 光子学报, 2022, 卷号: 51, 期号: 2 作者: 谭小波; 闫欣; 易涛; 何凯; 邵铮铮; 周凯凯; 高贵龙; 汪韬; 张军; 庄钊文 Adobe PDF(1487Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:232/2  |  提交时间:2022/07/01 光折变效应 X射线成像 超快成像 空间分辨率 动态范围 |
| 辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011459774.2, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-04-02 发明人: 姚东; 高贵龙; 尹飞; 闫欣; 辛丽伟; 何凯; 汪韬; 田进寿 Adobe PDF(306Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:212/10  |  提交时间:2021/11/29 |
| 带过冷保护的深冷缓释便携冷源装置及其使用方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011461758.7, 申请日期: 2021-09-14, 公开日期: 2021-09-14 发明人: 何凯; 闫欣; 吴永程; 王刚; 张杰; 刘毅恒; 田进寿; 汪韬; 姚东 Adobe PDF(391Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:178/4  |  提交时间:2021/11/16 |
| 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020651280.3, 申请日期: 2021-01-15, 发明人: 尹飞; 汪韬; 闫欣; 高贵龙; 何凯; 田进寿 Adobe PDF(484Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:76/1  |  提交时间:2023/11/24 |
| 一种X射线超快检测装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020417572.0, 申请日期: 2020-12-25, 发明人: 尹飞; 汪韬; 高贵龙; 何凯; 闫欣; 田进寿 Adobe PDF(366Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:46/0  |  提交时间:2023/11/30 |
| 用于ICF芯部自发光关键过程的全光固体超快成像系统及方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011544173.1, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-04-13 发明人: 高贵龙; 何凯; 闫欣; 汪韬; 田进寿; 尹飞; 辛丽伟; 王刚; 刘毅恒; 姚东; 李知兵; 张杰; 吴永程; 刘冲; 薛彦华 Adobe PDF(545Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:178/8  |  提交时间:2021/11/29 |
| 一种实时三维显微成像装置及方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011156312.3, 申请日期: 2020-10-26, 公开日期: 2021-03-16 发明人: 尹飞; 汪韬; 闫欣; 何凯; 高贵龙; 田进寿 Adobe PDF(545Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:291/7  |  提交时间:2021/11/25 |
| X射线全光固体超快探测芯片调制光栅的制备方法及光栅 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN201910150687.X, 申请日期: 2020-07-31, 公开日期: 2020-07-31 发明人: 闫欣; 高贵龙; 何凯; 汪韬; 田进寿; 钟梓源; 尹飞; 李少辉; 辛丽伟; 刘虎林 Adobe PDF(426Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:281/12  |  提交时间:2020/12/02 |
| 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010339529.1, 申请日期: 2020-04-26, 公开日期: 2020-07-24 发明人: 尹飞; 汪韬; 闫欣; 高贵龙; 何凯; 田进寿 Adobe PDF(704Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:194/7  |  提交时间:2021/11/17 |
| 高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统 专利 专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010280601.8, 申请日期: 2020-04-10, 公开日期: 2020-08-21 发明人: 高贵龙; 何凯; 闫欣; 汪韬; 尹飞; 田进寿; 辛丽伟; 贾祥志; 吴永程; 张杰; 刘冲; 李少辉; 刘毅恒 Adobe PDF(560Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:163/11  |  提交时间:2021/11/16 |