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光折变X射线半导体超快响应芯片空间性能的实验研究 期刊论文
光子学报, 2022, 卷号: 51, 期号: 2
作者:  谭小波;  闫欣;  易涛;  何凯;  邵铮铮;  周凯凯;  高贵龙;  汪韬;  张军;  庄钊文
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光折变效应  X射线成像  超快成像  空间分辨率  动态范围