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光电经纬仪光学系统变形测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201821544393.2, 申请日期: 2019-05-31, 公开日期: 2019-05-31
发明人:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201811100735.6, 申请日期: 2018-09-20, 公开日期: 2019-01-11
发明人:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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Analysis of Attitude Measurement Accuracy and Indoor Evaluation Method of Photoelectric Theodolite 期刊论文
Guangxue Xuebao/Acta Optica Sinica, 2018, 卷号: 38, 期号: 1
作者:  Zhao, Huaixue;  Tian, Liude;  Zhao, Jianke;  Xue, Xun;  Pan, Liang;  Wang, Tao
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三轴误差对光电经纬仪测角的影响 期刊论文
红外与激光工程, 2013, 卷号: 42, 期号: 增刊1, 页码: 192
作者:  田留德;  刘朝晖;  赵建科;  潘亮;  段亚轩;  张周锋
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光电经纬仪动态测角精度随机误差检测方法研究 期刊论文
应用光学, 2013, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 1010-1013
作者:  赵怀学
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