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负透镜焦距测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN203606110, 申请日期: 2014-05-21, 公开日期: 2014-05-21
发明人:  陈永权;  段亚轩;  袁湘兰;  李坤;  赵建科;  赛建刚;  胡丹丹;  龙江波;  昌明;  薛勋;  周艳;  张洁
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负透镜焦距测试装置及测试方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN103698107, 申请日期: 2013-12-06, 公开日期: 2014-04-02
发明人:  陈永权;  段亚轩;  袁湘兰;  李坤;  赵建科;  赛建刚;  胡丹丹;  龙江波;  昌明;  薛勋;  周艳;  张洁
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弱光探测仪及其标校系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910023125.5, 申请日期: 2011-01-05, 公开日期: 2011-01-05
发明人:  张周锋;  赵建科;  潘亮;  赛建刚;  袁香兰
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弧矢聚焦双晶单色器出射光束位置测试方法研究 期刊论文
红外与激光工程, 2008, 卷号: 37, 期号: S1, 页码: 253-255
作者:  Zhang Zhoufeng(张周锋);  Zhao Jianke(赵建科);  Yuan Xianglan(袁湘兰);  Feng Jie(冯婕)
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绝对相位展开方法研究 期刊论文
红外与激光工程, 2008, 卷号: 37, 期号: SUPPL., 页码: 23-25
作者:  Chen Yongquan(陈永权);  Zhao Jianke(赵建科);  Yuan Xianglan(袁湘兰)
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16位、17位光学编码器 成果
省部科学技术进步奖, 1978
主要完成人:  王胡顺;  李淑珍;  陆兆敏;  马健康;  袁香兰
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