Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 弱光探测仪及其标校系统 | |
| 张周锋; 赵建科; 潘亮; 赛建刚; 袁香兰 | |
| 2011-01-05 | |
| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2011-01-05 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 物理 |
| 申请日期 | 2009-06-30 |
| 专利号 | CN200910023125.5 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 受理 |
| 申请号 | CN200910023125.5 |
| 专利代理人 | 商宇科 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13478 |
| 专题 | 中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张周锋,赵建科,潘亮,等. 弱光探测仪及其标校系统. CN200910023125.5[P]. 2011-01-05. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 200910023125.pdf（285KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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