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一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN207832133U, 申请日期: 2018-09-07, 公开日期: 2018-09-07
发明人:  郝志廷;  王平霞;  李建荣
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一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN108106552A, 申请日期: 2018-06-01, 公开日期: 2018-06-01
发明人:  郝志廷;  王平霞;  李建荣
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GaN基金属‑超薄氧化物‑半导体的复合结构纳米激光器及其制备方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106785913A, 申请日期: 2017-05-31, 公开日期: 2017-05-31
发明人:  刘斌;  陶涛;  智婷;  张荣;  谢自力;  陈鹏;  陈敦军;  韩平;  施毅;  郑有炓
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一种GaN薄膜的外延生长方法及应用 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106328774A, 申请日期: 2017-01-11, 公开日期: 2017-01-11
发明人:  李国强;  王海燕;  林志霆
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