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一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104515592B, 申请日期: 2017-07-14, 公开日期: 2017-07-14
发明人:  刘晖;  袁治远;  崔龙;  王昊;  吴迪;  刘兴胜
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一种用于半导体光源的远场三维强度的表征装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN104596639B, 申请日期: 2017-04-19, 公开日期: 2017-04-19
发明人:  刘晖;  袁治远;  崔龙;  王昊;  吴迪;  刘兴胜
Adobe PDF(150Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：55/0  |  提交时间：2019/12/24
一种半导体激光器芯片测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN206057498U, 申请日期: 2017-03-29, 公开日期: 2017-03-29
发明人:  沈泽南;  刘兴胜;  张宏伟;  刘新元;  吴迪
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