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光电经纬仪光学系统变形测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201821544393.2, 申请日期: 2019-05-31, 公开日期: 2019-05-31
发明人:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201811100735.6, 申请日期: 2018-09-20, 公开日期: 2019-01-11
发明人:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋;  潘亮;  胡丹丹;  刘艺宁;  张洁;  曹昆;  李坤;  赛建刚;  昌明
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