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一种半导体激光器寿命测试装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN102062675B, 申请日期: 2013-03-20, 公开日期: 2013-03-20
发明人:  刘兴胜;  代华斌;  张彦鑫;  李锋;  吴迪
Adobe PDF(544Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/12/26
一种半导体激光器特性测试系统 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN102109571B, 申请日期: 2013-01-02, 公开日期: 2013-01-02
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫;  杨凯;  李锋
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一种半导体激光器偏振测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202255839U, 申请日期: 2012-05-30, 公开日期: 2012-05-30
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫
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一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN102435421A, 申请日期: 2012-05-02, 公开日期: 2012-05-02
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫
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一种激光器寿命测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202003003U, 申请日期: 2011-10-05, 公开日期: 2011-10-05
发明人:  刘兴胜;  代华斌;  张彦鑫;  李锋;  吴迪
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一种激光器特性测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201993440U, 申请日期: 2011-09-28, 公开日期: 2011-09-28
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫;  杨凯;  李锋
Adobe PDF(858Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/12/26
一种激光器特性测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201993440U, 申请日期: 2011-09-28, 公开日期: 2011-09-28
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫;  杨凯;  李锋
Adobe PDF(858Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/26