一种半导体激光器偏振测试系统

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	一种半导体激光器偏振测试系统
其他题名	一种半导体激光器偏振测试系统
	刘兴胜; 吴迪; 张彦鑫
	2012-05-30
专利权人	西安炬光科技有限公司
公开日期	2012-05-30
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型提供了一种半导体激光器偏振测试系统，以精确测试半导体激光器的偏振度和判别偏振模式。本实用新型的偏振测试系统是在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器，该分光器的透射方向上依次设置有偏振滤光状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置；该分光器的反射方向上设置有按照偏振模式分光的分光棱镜，该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。本实用新型操作简单，可适用于大批量半导体激光器产品的测试，针对不同型号的激光器在测量偏振度时调节简便，可快速判定半导体激光器的偏振模式。
其他摘要	本实用新型提供了一种半导体激光器偏振测试系统，以精确测试半导体激光器的偏振度和判别偏振模式。本实用新型的偏振测试系统是在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器，该分光器的透射方向上依次设置有偏振滤光状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置；该分光器的反射方向上设置有按照偏振模式分光的分光棱镜，该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。本实用新型操作简单，可适用于大批量半导体激光器产品的测试，针对不同型号的激光器在测量偏振度时调节简便，可快速判定半导体激光器的偏振模式。
申请日期	2011-09-22
专利号	CN202255839U
专利状态	失效
申请号	CN201120356779.2
公开（公告）号	CN202255839U
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	徐平
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92653
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安炬光科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘兴胜,吴迪,张彦鑫. 一种半导体激光器偏振测试系统. CN202255839U[P]. 2012-05-30.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN202255839U.PDF（315KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文