一种半导体激光器特性测试系统

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	一种半导体激光器特性测试系统
其他题名	一种半导体激光器特性测试系统
	刘兴胜; 吴迪; 张彦鑫; 杨凯; 李锋
	2013-01-02
专利权人	西安炬光科技股份有限公司
公开日期	2013-01-02
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明公开了一种半导体激光器特性测试系统，包括半导体激光器驱动器、三维平行导轨、激光器温度控制模块、LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块、空间光谱测试模块、中央软件处理模块。同时可根据需要选择工作模块。本发明用于对半导体激光器，尤其是高功率半导体激光器的高精度和自动化测试，降低半导体激光器的检测和生产制造成本。
其他摘要	本发明公开了一种半导体激光器特性测试系统，包括半导体激光器驱动器、三维平行导轨、激光器温度控制模块、LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块、空间光谱测试模块、中央软件处理模块。同时可根据需要选择工作模块。本发明用于对半导体激光器，尤其是高功率半导体激光器的高精度和自动化测试，降低半导体激光器的检测和生产制造成本。
主权项	一种半导体激光器特性测试系统，包括一光学平台（1）和计算机系统，其特征在于：所述光学平台（1）上固定设有二维平移导轨（2），所述二维平移导轨（2）通过滑块固定设有激光器固定座，所述激光器固定座上设有被测激光器（4），所述激光器固定座上还设有控制被测激光器（4）温度的激光器温度控制模块，所述二维平移导轨（2）的旁侧排列有分别与所述计算机系统相连的LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块以及空间光谱测试模块的一个或者多个；所述被测激光器（4）通过半导体激光器驱动器（5）与计算机系统连接；所述的近场非线性测试模块包括透镜系统和第CCD相机（16.2）；被测激光器（4）发出的光依次通过透镜系统被准直成平行光，该平行光被放大后呈现在第CCD相机（16.2）上。
申请日期	2010-12-16
专利号	CN102109571B
专利状态	授权
申请号	CN201010591449.1
公开（公告）号	CN102109571B
IPC 分类号	G01R31/26 \| H01S5/00
专利代理人	罗永娟
代理机构	西安西交通盛知识产权代理有限责任公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45416
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安炬光科技股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘兴胜,吴迪,张彦鑫,等. 一种半导体激光器特性测试系统. CN102109571B[P]. 2013-01-02.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN102109571B.PDF（859KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文