一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统

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	一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统
其他题名	一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统
	刘兴胜; 吴迪; 张彦鑫
	2012-05-02
专利权人	西安炬光科技股份有限公司
公开日期	2012-05-02
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明提供了一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统，以精确测试半导体激光器的偏振度和判别偏振模式。本发明的偏振测试系统是在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器，该分光器的透射方向上依次设置有偏振滤光状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置；该分光器的反射方向上设置有按照偏振模式分光的分光棱镜，该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。本发明操作简单，可适用于大批量半导体激光器产品的测试，针对不同型号的激光器在测量偏振度时调节简便，可快速判定半导体激光器的偏振模式。
其他摘要	本发明提供了一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统，以精确测试半导体激光器的偏振度和判别偏振模式。本发明的偏振测试系统是在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器，该分光器的透射方向上依次设置有偏振滤光状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置；该分光器的反射方向上设置有按照偏振模式分光的分光棱镜，该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。本发明操作简单，可适用于大批量半导体激光器产品的测试，针对不同型号的激光器在测量偏振度时调节简便，可快速判定半导体激光器的偏振模式。
主权项	一种半导体激光器偏振测试方法，其特征在于：将激光器出射光按照功率进行分光；分光得到的透射光通过偏振器件，再经过会聚透镜/透镜组会聚入射至功率探测装置；持续旋转偏振器件，相应取得功率探测装置输出的的光功率值；记录所有光功率值中的最大光功率值Pmax和最小光功率值Pmin；半导体激光器偏振度即分光得到的反射光经分光棱镜按照偏振模式对激光光束进行再次分光，分出偏振态为TE和TM的光分别取得偏振态为TE和TM的光束的光功率值，经对比即可判定出半导体激光器的偏振模式。
申请日期	2011-09-22
专利号	CN102435421A
专利状态	授权
申请号	CN201110282889.3
公开（公告）号	CN102435421A
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	徐平
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63612
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安炬光科技股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘兴胜,吴迪,张彦鑫. 一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统. CN102435421A[P]. 2012-05-02.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN102435421A.PDF（343KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文