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基于图像监测微颗粒形状与散射的装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN101082562B, 申请日期: 2010-12-29, 公开日期: 2010-12-29
发明人:  邵士勇;  姚永帮;  饶瑞中
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Total-internal-reflection fluorescence microscopy with W-shaped axicon mirrors 期刊论文
OPTICS LETTERS, 2010, 卷号: 35, 期号: 23, 页码: 4057-4059
作者:  Lei, Ming;  Zumbusch, Andreas;  Lei Ming
Adobe PDF(215Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：343/6  |  提交时间：2010/12/07
微透镜阵列与二极管激光器阵列集成的微调方法及装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101867158A, 申请日期: 2010-10-20, 公开日期: 2010-10-20
发明人:  胡永生;  叶淑娟;  秦莉;  张楠;  宁永强
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半导体激光器腔面温度的测量方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101865729A, 申请日期: 2010-10-20, 公开日期: 2010-10-20
发明人:  饶岚;  宋国峰;  汪卫敏;  陈良惠
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Properties of photon counting imaging system with Si thin films 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2010, 卷号: 59, 期号: 10, 页码: 7096-7104
作者:  Zhao Fei-Fei;  Liu Yong-An;  Hu Hui-Jun;  Zhao Bao-Sheng
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Detectors  Photon Counting Imaging  Charge Induction  Microchannel Plate  
Microscope slide with diode-laser markable region 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: EP2226671A1, 申请日期: 2010-09-08, 公开日期: 2010-09-08
发明人:  MAGNIETTE, OLIVIER
收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/31
使用菲涅尔双棱镜产生多层光片的荧光显微方法及装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910254546.9, 申请日期: 2010-09-01, 公开日期: 2010-09-01
发明人:  雷铭;  姚保利
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Fluorescent Light Microscope For Measuring a Sample Using Red-Shifted Stokes Lines 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: US20100187438A1, 申请日期: 2010-07-29, 公开日期: 2010-07-29
发明人:  HELL, STEFAN W.;  RANKIN, BRIAN;  KELLNER, ROBERT;  JETHWA, JAYDEV;  STAUDT, THORSTEN
收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2019/12/31
多波长半导体纳米线和微光纤复合结构微激光器 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101714742A, 申请日期: 2010-05-26, 公开日期: 2010-05-26
发明人:  杨青;  丁晔;  郭欣;  姜校顺;  童利民
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基于二极管激光器自混合效应的MEMS动态测试仪 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN101706579A, 申请日期: 2010-05-12, 公开日期: 2010-05-12
发明人:  张照云;  高杨;  赵兴海;  苏伟;  赵翔
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