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一种半导体激光器芯片测试装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106124958A, 申请日期: 2016-11-16, 公开日期: 2016-11-16
发明人:  沈泽南;  刘兴胜;  张宏伟;  刘新元;  吴迪
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Thermally accelerated ageing test of 808nm high power diode laser arrays in CW mode 会议论文
2016 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2016, Wuhan, China, 2016-08-16
作者:  Nie, Zhiqiang;  Wu, Di;  Lu, Yao;  Wu, Dhai;  Wang, Shuna;  Zhang, Pu;  Xiong, Lingling;  Li, Xiaoning;  Shen, Zenan
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Chip Scale Packages  Defects  Degradation  Electronics Packaging  High Power Lasers  Laser Beam Welding  Power Semiconductor Diodes  Reliability  Reliability Analysis  Semiconductor Diodes  
一种半导体激光器 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN204966960U, 申请日期: 2016-01-13, 公开日期: 2016-01-13
发明人:  刘兴胜;  王警卫;  邢卓;  侯栋;  李小宁;  沈泽南
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