中文版 | English

在结果中检索

OPT OpenIR

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助

限定条件                        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010113732.7, 申请日期: 2020-12-25, 公开日期: 2020-12-25
发明人:  陈晓义;  段亚轩;  李红光;  王璞;  李铭;  达争尚
Adobe PDF(734Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：127/0  |  提交时间：2021/11/04
可动态测量平面光学元件面形的测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011537852.6, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-03-16
发明人:  段亚轩;  达争尚;  郑小霞;  董晓娜;  王拯洲;  张伟刚;  孙策;  蔺辉;  陈晓义;  范尧
Adobe PDF(626Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：139/0  |  提交时间：2021/11/29
高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011544090.2, 申请日期: 2020-12-23, 公开日期: 2021-05-07
发明人:  段亚轩;  陈晓义;  达争尚
Adobe PDF(737Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：90/0  |  提交时间：2021/11/29
动态高分辨光学波前相位测量装置及测量方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010494800.9, 申请日期: 2020-06-03, 公开日期: 2020-10-09
发明人:  段亚轩;  达争尚;  李红光;  李铭;  王璞;  陈晓义;  陈永权;  袁索超;  蔺辉
Adobe PDF(874Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：88/0  |  提交时间：2021/11/19
基于动态定量相位成像的半导体晶圆表面形貌测量装置 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010495564.2, 申请日期: 2020-06-03, 公开日期: 2020-09-15
发明人:  段亚轩;  达争尚;  陈晓义;  王璞;  李铭;  王拯洲;  蔺辉;  魏际同
Adobe PDF(632Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：105/0  |  提交时间：2021/11/19