OPT OpenIR  > 先进光学仪器研究室
一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置及方法
陈晓义; 段亚轩; 李红光; 王璞; 李铭; 达争尚
2020-12-25
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2020-12-25
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及相位恢复技术,提供了一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置及方法,解决现有相位恢复技术需要复杂扫描过程以获得多个衍射强度,在扫描过程中引入的位移误差和光路倾斜,影响相位恢复收敛速度和精度的问题。其中装置包括调制系统、探测器及数据处理单元;调制系统用于加载n个调制相位,对待测光场进行调制,获得待测光场的n个衍射光强,n为大于等于4的整数;n个调制相位与待测光场不同频段的相位相适配;探测器用于接收调制后的n个衍射光强;数据处理单元包括存储器和处理器,存储器上存储有用于处理n个调制相位和n个衍射光强的计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现相位恢复方法计算待测光场复振幅。
申请日期2020-02-24
专利号CN202010113732.7
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN111220283B
IPC 分类号G01J9/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95160
专题先进光学仪器研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
陈晓义,段亚轩,李红光,等. 一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置及方法. CN202010113732.7[P]. 2020-12-25.
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一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置(734KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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