| 高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法 |
| 段亚轩; 陈晓义; 达争尚
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| 2020-12-23
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| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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| 公开日期 | 2021-05-07
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明专利
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| 产权排序 | 1
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| 摘要 | 为了解决目前采用相位恢复技术直接测量光场复振幅时，无法实现光场复振幅的瞬态测量，以及测量精度不高的问题，本发明提出一种高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法。本发明利用混合调制光栅将待测光场分束为四束等光强的光束，并在它们传播过程中分别进行不同的相位调制，然后利用探测器获取调制后的四束光场强度信息，最后通过相位恢复方法计算得到待测光场复振幅。本发明利用瞬时获取的四个不同的衍射光强信息，实现了光场复振幅的瞬态高分辨测量；本发明不包含复杂的扫描过程，既提高了测量效率，又不会引入由于扫描过程造成的光路倾斜误差或者距离误差。 |
| 申请日期 | 2020-12-23
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| 专利号 | CN202011544090.2
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 申请中
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| 公开（公告）号 | CN112763080A
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| IPC 分类号 | G01J9/00
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95525
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| 专题 | 先进光学仪器研究室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
段亚轩,陈晓义,达争尚. 高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法. CN202011544090.2[P]. 2020-12-23.
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