OPT OpenIR  > 先进光学仪器研究室
动态高分辨光学波前相位测量装置及测量方法
段亚轩; 达争尚; 李红光; 李铭; 王璞; 陈晓义; 陈永权; 袁索超; 蔺辉
2020-06-03
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2020-10-09
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要为了解决现有的动态光学波前相位测量装置精度不高、分辨率不高的技术问题,本发明提出了一种动态高分辨光学波前相位测量装置及测量方法,利用激光器、准直镜、平面反射镜、分光镜、吸收体、混合调制光栅、探测器、计算机、不同F#标准镜头和校准镜,能够实现对光学元件面形和光学系统波像差的主动式光学测试。本发明的分辨率由探测器像元尺寸大小决定,可实现高分辨率的光学波前相位测量,分辨率可小于0.01mm。本发明在系统本底误差标定一次后,即作为系统数据,实际面形测量时只需采集一次图像就可计算得到被测表面形貌信息,故相对传统相移干涉法,本发明不受环境影响。
申请日期2020-06-03
专利号CN202010494800.9
语种中文
专利状态申请中
公开(公告)号CN111751012A
IPC 分类号G01J9/02 ; G01B11/24 ; G01M11/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95365
专题先进光学仪器研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
段亚轩,达争尚,李红光,等. 动态高分辨光学波前相位测量装置及测量方法. CN202010494800.9[P]. 2020-06-03.
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动态高分辨光学波前相位测量装置及测量方法(874KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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