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半导体激光器老化及寿命测试保护系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202502213U, 申请日期: 2012-10-24, 公开日期: 2012-10-24
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  王江勃
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半导体激光器老化及寿命测试保护系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202502213U, 申请日期: 2012-10-24, 公开日期: 2012-10-24
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  王江勃
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一种半导体激光器老化/寿命测试实时监测系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202471388U, 申请日期: 2012-10-03, 公开日期: 2012-10-03
发明人:  刘兴胜;  吴迪
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多发光单元半导体激光器空间光谱测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202305012U, 申请日期: 2012-07-04, 公开日期: 2012-07-04
发明人:  刘兴胜;  吴迪
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一种半导体激光器老化/寿命测试实时监测方法及系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN102519709A, 申请日期: 2012-06-27, 公开日期: 2012-06-27
发明人:  刘兴胜;  吴迪
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半导体激光器老化及寿命测试保护系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN102520336A, 申请日期: 2012-06-27, 公开日期: 2012-06-27
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  王江勃
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一种半导体激光器偏振测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 实用新型, 专利号: CN202255840U, CN202255840U, 申请日期: 2012-05-30, 2012-05-30, 公开日期: 2012-05-30, 2012-05-30
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  周国锋
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一种半导体激光器偏振测试系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202255839U, 申请日期: 2012-05-30, 公开日期: 2012-05-30
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫
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一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN102435421A, 申请日期: 2012-05-02, 公开日期: 2012-05-02
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  张彦鑫
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一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN102435422A, 申请日期: 2012-05-02, 公开日期: 2012-05-02
发明人:  刘兴胜;  吴迪;  周国锋
Adobe PDF(497Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:4/0  |  提交时间:2020/01/18