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A truncated test scheme design method for success-failure in-orbit tests 期刊论文
Reliability Engineering and System Safety, 2024, 卷号: 243
作者:  Ding, Wenzhe;  Bai, Xiang;  Wang, Qingwei;  Long, Fang;  Li, Hailin;  Wu, Zhengrong;  Liu, Jian;  Yao, Huisheng;  Yang, Hong
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