中文版 | English

在结果中检索

OPT OpenIR

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106441806A, 申请日期: 2017-02-22, 公开日期: 2017-02-22
发明人:  王贵山;  杨鹏;  邱静;  刘冠军;  吕克洪;  张勇;  谢皓宇;  沈亲沐;  季明江;  赵志傲;  吴超;  李乾;  李华康;  代岳
Adobe PDF(156Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：158/0  |  提交时间：2019/12/31