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一种在线监测半导体激光器退化的方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: CN108521293B, 申请日期: 2019-10-08, 公开日期: 2019-10-08
发明人:  杨鹏;  王贵山;  邱静;  刘冠军;  吕克洪;  张勇
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半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106441806A, 申请日期: 2017-02-22, 公开日期: 2017-02-22
发明人:  王贵山;  杨鹏;  邱静;  刘冠军;  吕克洪;  张勇;  谢皓宇;  沈亲沐;  季明江;  赵志傲;  吴超;  李乾;  李华康;  代岳
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