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判定装置及び判定方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2018031622A, 申请日期: 2018-03-01, 公开日期: 2018-03-01
发明人:  日向 進;  深堀 秀則
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半導体レーザパッケージの冷却システム 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2010135704A, 申请日期: 2010-06-17, 公开日期: 2010-06-17
发明人:  熊本 健二;  山崎 浩次;  日向 進
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半導体レーザ装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP2010114269A, 申请日期: 2010-05-20, 公开日期: 2010-05-20
发明人:  日向 進;  山崎 浩次;  深堀 秀則
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半導体レーザの製造方法 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: JP3645664B2, 申请日期: 2005-02-10, 公开日期: 2005-05-11
发明人:  日向 進
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集積型半導体レーザ装置 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: JP2740762B2, 申请日期: 1998-01-23, 公开日期: 1998-04-15
发明人:  日向 進
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半導体レーザ 专利
专利类型: 授权发明, 专利号: JP1996004187B2, 申请日期: 1996-01-17, 公开日期: 1996-01-17
发明人:  日向 進;  生和 義人
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半導体光デバイス 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: JP1993226782A, 申请日期: 1993-09-03, 公开日期: 1993-09-03
发明人:  日向 進
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