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Thermally accelerated ageing test of 808nm high power diode laser arrays in CW mode 会议论文
2016 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2016, Wuhan, China, 2016-08-16
作者:  Nie, Zhiqiang;  Wu, Di;  Lu, Yao;  Wu, Dhai;  Wang, Shuna;  Zhang, Pu;  Xiong, Lingling;  Li, Xiaoning;  Shen, Zenan
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Chip Scale Packages  Defects  Degradation  Electronics Packaging  High Power Lasers  Laser Beam Welding  Power Semiconductor Diodes  Reliability  Reliability Analysis  Semiconductor Diodes  
Influence of temperature on “Smile” in high power diode laser bars 期刊论文
Guangzi Xuebao/Acta Photonica Sinica, 2016, 卷号: 45, 期号: 5
作者:  Wang, Shu-Na;  Zhang, Pu;  Xiong, Ling-Ling;  Nie, Zhi-Qiang;  Wu, Di-Hai;  Liu, Xing-Sheng
Adobe PDF(568Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：228/2  |  提交时间：2016/10/14
Diodes  Heat Sinks  Lasers  Power Semiconductor Diodes  Semiconductor Lasers  Temperature  Thermal Stress