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一种半导体激光器退化机制的检测方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN105807197A, 申请日期: 2016-07-27, 公开日期: 2016-07-27
发明人:  温鹏雁;  李德尧;  张书明;  刘建平;  张立群;  杨辉
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半导体激光器及其制备方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN105790072A, 申请日期: 2016-07-20, 公开日期: 2016-07-20
发明人:  周坤;  刘建平;  张书明;  李德尧;  张立群;  杨辉
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