一种半导体激光器退化机制的检测方法

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	一种半导体激光器退化机制的检测方法
其他题名	一种半导体激光器退化机制的检测方法
	温鹏雁; 李德尧; 张书明; 刘建平; 张立群; 杨辉
	2016-07-27
专利权人	杭州增益光电科技有限公司
公开日期	2016-07-27
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种半导体激光器退化机制的检测方法，其包括：在同等条件下分别测量失效的半导体激光器的瞬态降温曲线和标准工作的半导体激光器的瞬态降温曲线，对两瞬态降温曲线进行比对，得到失效的半导体激光器的退化机制。本发明利用了半导体激光器瞬态传热特点，通过正向电压测结温的方法或者其他方法得到激光器的瞬态降温曲线，再通过比较失效后激光器的瞬态降温曲线和标准工作的激光器的瞬态降温曲线的差异来找到激光器发生退化的位置，并根据变化量的大小初步判定其可能的失效机制，从而快速的确定激光器失效的原因并找到解决方法，最终延长激光器的工作寿命。
其他摘要	本发明公开了一种半导体激光器退化机制的检测方法，其包括：在同等条件下分别测量失效的半导体激光器的瞬态降温曲线和标准工作的半导体激光器的瞬态降温曲线，对两瞬态降温曲线进行比对，得到失效的半导体激光器的退化机制。本发明利用了半导体激光器瞬态传热特点，通过正向电压测结温的方法或者其他方法得到激光器的瞬态降温曲线，再通过比较失效后激光器的瞬态降温曲线和标准工作的激光器的瞬态降温曲线的差异来找到激光器发生退化的位置，并根据变化量的大小初步判定其可能的失效机制，从而快速的确定激光器失效的原因并找到解决方法，最终延长激光器的工作寿命。
申请日期	2014-12-29
专利号	CN105807197A
专利状态	申请中
申请号	CN201410835806.2
公开（公告）号	CN105807197A
IPC 分类号	G01R31/26
专利代理人	王锋
代理机构	南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91788
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	杭州增益光电科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	温鹏雁,李德尧,张书明,等. 一种半导体激光器退化机制的检测方法. CN105807197A[P]. 2016-07-27.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN105807197A.PDF（162KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文