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Surface defect inspection with large particle monitoring and laser power control 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: WO2018027010A1, 申请日期: 2018-02-08, 公开日期: 2018-02-08
发明人:  CUI, STEVE YIFENG;  HUANG, JAY (CHUNSHENG);  WANG, CHUNHAI;  WOLTERS, CHRISTIAN;  WHITESIDE, BRET;  ROMANOVSKY, ANATOLY;  HUANG, CHUANYONG;  PETTIBONE, DONALD
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Nitride semiconductor device comprising bonded substrate and fabrication method of the same 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: EP1385215A2, 申请日期: 2004-01-28, 公开日期: 2004-01-28
发明人:  NAGAHAMA, SHINICHI;  SANO, MASAHIKO;  YANAMOTO, TOMOYA;  SAKAMOTO, KEIJI;  YAMAMOTO, MASASHI;  MORITA, DAISUKE
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Nitride semiconductor device comprising bonded substrate and fabrication method of the same 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: EP1385215A2, 申请日期: 2004-01-28, 公开日期: 2004-01-28
发明人:  NAGAHAMA, SHINICHI;  SANO, MASAHIKO;  YANAMOTO, TOMOYA;  SAKAMOTO, KEIJI;  YAMAMOTO, MASASHI;  MORITA, DAISUKE
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Method of making and testing a semiconductor device 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: EP0618455A2, 申请日期: 1994-10-05, 公开日期: 1994-10-05
发明人:  BETHEA, CLYDE GEORGE
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