OPT OpenIR

浏览/检索结果: 共1条,第1-1条 帮助

限定条件                    
已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
超晶格插入层对Si基上GaN薄膜位错密度的影响(英文) 期刊论文
电子器件, 2008, 卷号: 31, 期号: 1, 页码: 61-64
作者:  Liu Xiaofeng(刘晓峰);  Feng Yuchun(冯玉春);  Peng Dongsheng(彭冬生)
Adobe PDF(794Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:278/1  |  提交时间:2011/10/08