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多谱段光轴平行性测试装置及测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010435713.6, 申请日期: 2021-05-14, 公开日期: 2021-05-14
发明人:  田留德;  周艳;  王涛;  赵建科;  曹昆
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高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统 专利
专利号: CN202020625854.X, 申请日期: 2020-11-17,
发明人:  张玺斌;  赵建科;  徐亮;  刘峰;  康晓鹏;  李朝辉;  李晓辉;  午建军;  魏紫薇
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高精度多光轴一致性测量系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202020626892.7, 申请日期: 2020-11-17,
发明人:  张玺斌;  赵建科;  徐亮;  刘峰;  高立民;  李晓辉;  李朝辉;  午建军;  刘勇
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高精度多光轴一致性测量系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010327369.9, 申请日期: 2020-04-23, 公开日期: 2020-07-24
发明人:  张玺斌;  赵建科;  徐亮;  刘峰;  高立民;  李晓辉;  李朝辉;  午建军;  刘勇
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高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010327382.4, 申请日期: 2020-04-23, 公开日期: 2020-07-24
发明人:  张玺斌;  赵建科;  徐亮;  刘峰;  康晓鹏;  李朝辉;  李晓辉;  午建军;  魏紫薇
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光束质量测量装置及远场光束质量因子计算方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201911191276.1, 申请日期: 2019-11-28, 公开日期: 2020-04-10
发明人:  李朝辉;  赵建科;  徐亮;  刘峰;  张玺斌;  毛振
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