OPT OpenIR  > 航空光电技术研究室
高精度多光轴一致性测量系统
张玺斌; 赵建科; 徐亮; 刘峰; 高立民; 李晓辉; 李朝辉; 午建军; 刘勇
2020-11-17
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型涉及多光轴一致性测量,具体涉及一种高精度多光轴一致性测量系统。本实用新型的目的是解决现有多光轴一致性测量系统存在无法建立高精度测量基准、难以进行兼顾激光发射光轴、激光接收光轴、可见光光轴、红外光轴的多光轴一致性测量的技术问题,提供一种高精度多光轴一致性测量系统。该系统包括平行光管组件、焦点组件、取样镜组件、长焦自准直光管组件;平行光管组件包括离轴抛物面镜和折轴镜;取样镜组件包括第一取样镜和第二取样镜,第二取样镜为半透半反镜;长焦自准直光管组件包括会聚镜头、分光镜、CCD探测器、第二十字靶、面阵光源。
专利号CN202020626892.7
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN211954621U
IPC 分类号G01M11/04 ; G01M11/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/96918
专题航空光电技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
张玺斌,赵建科,徐亮,等. 高精度多光轴一致性测量系统. CN202020626892.7[P]. 2020-11-17.
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