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光折变X射线半导体超快响应芯片空间性能的实验研究 期刊论文
光子学报, 2022, 卷号: 51, 期号: 2
作者:  谭小波;  闫欣;  易涛;  何凯;  邵铮铮;  周凯凯;  高贵龙;  汪韬;  张军;  庄钊文
Adobe PDF(1487Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:191/2  |  提交时间:2022/07/01
光折变效应  X射线成像  超快成像  空间分辨率  动态范围  
像增强型全光固体超快成像探测器 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201820203457.6, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-21
发明人:  何凯;  田进寿;  汪韬;  韦永林;  徐向晏;  卢裕;  闫欣;  王兴;  尹飞;  刘虎林;  陈萍;  温文龙;  辛丽伟;  王超;  王俊锋;  赛小锋
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