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A truncated test scheme design method for success-failure in-orbit tests 期刊论文
Reliability Engineering and System Safety, 2024, 卷号: 243
作者:  Ding, Wenzhe;  Bai, Xiang;  Wang, Qingwei;  Long, Fang;  Li, Hailin;  Wu, Zhengrong;  Liu, Jian;  Yao, Huisheng;  Yang, Hong
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IOT verification test  Sequential test  Bayesian theory  Risk calculation  Optimization  
Detector noise quantitative ratio modelling in coherent field imaging 期刊论文
Guangzi Xuebao/Acta Photonica Sinica, 2015, 卷号: 44, 期号: 4
作者:  Cheng, Zhi-Yuan;  Luo, Xiu-Juan;  Ma, Cai-Wen;  Zhang, Yu;  Liu, Hui;  Zhu, Xiang-Ping
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