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A truncated test scheme design method for success-failure in-orbit tests 期刊论文
Reliability Engineering and System Safety, 2024, 卷号: 243
作者:  Ding, Wenzhe;  Bai, Xiang;  Wang, Qingwei;  Long, Fang;  Li, Hailin;  Wu, Zhengrong;  Liu, Jian;  Yao, Huisheng;  Yang, Hong
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IOT verification test  Sequential test  Bayesian theory  Risk calculation  Optimization  
基于电反馈的改进型相位调制外差技术压窄半导体激光器线宽的方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN103346473A, 申请日期: 2013-10-09, 公开日期: 2013-10-09
发明人:  袁其平;  吴丽娜;  童峥嵘;  曹晔
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