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| 一种基于二次平台线阵CCD的水平位置测量方法 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN103983189B, 申请日期: 2017-02-08, 公开日期: 2017-02-08 发明人: 刘杨; 李理; 付振宪; 谭久彬 Adobe PDF(173Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:59/0  |  提交时间:2019/12/26 |
| 基于高精度同步多测尺的半导体激光测距装置与方法 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN104035087B, 申请日期: 2017-01-18, 公开日期: 2017-01-18 发明人: 谭久彬; 杨宏兴; 胡鹏程 Adobe PDF(235Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:65/0  |  提交时间:2019/12/24 |
| 超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN104049248B, 申请日期: 2016-10-12, 公开日期: 2016-10-12 发明人: 杨宏兴; 谭久彬; 胡鹏程 Adobe PDF(269Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:43/0  |  提交时间:2019/12/26 |
| 可溯源超外差式精测尺混合激光器测距装置与方法 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN104133207B, 申请日期: 2016-10-12, 公开日期: 2016-10-12 发明人: 杨宏兴; 谭久彬; 胡鹏程 Adobe PDF(243Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:53/0  |  提交时间:2019/12/26 |
| 基于可溯源同步测尺的混合双光源激光测距装置与方法 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN104155642B, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24 发明人: 谭久彬; 杨宏兴; 胡鹏程 Adobe PDF(227Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:48/0  |  提交时间:2019/12/26 |
| 抗多频混叠的高精度同步测尺半导体激光测距装置与方法 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN104049250B, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2016-07-06 发明人: 杨宏兴; 谭久彬; 胡鹏程 Adobe PDF(269Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:49/0  |  提交时间:2019/12/24 |
| 基于可溯源同步多测尺的混合激光器测距装置与方法 专利 专利类型: 发明申请, 专利号: CN105318839A, 申请日期: 2016-02-10, 公开日期: 2016-02-10 发明人: 杨宏兴; 谭久彬; 胡鹏程 Adobe PDF(1280Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:32/0  |  提交时间:2020/01/18 |
| 一种分布式平面六自由度位姿快速精密测量方法 专利 专利类型: 授权发明, 专利号: CN103134428B, 申请日期: 2015-09-02, 公开日期: 2015-09-02 发明人: 黄向东; 谭久彬; 于文波 Adobe PDF(525Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:52/0  |  提交时间:2019/12/24 |
| 混合外差式多频抗混叠激光测距装置与方法 专利 专利类型: 发明申请, 专利号: CN104048642A, 申请日期: 2014-09-17, 公开日期: 2014-09-17 发明人: 杨宏兴; 谭久彬; 胡鹏程 Adobe PDF(1712Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2019/12/31 |
| 抗多频混叠的可溯源同步测尺双光源激光测距装置与方法 专利 专利类型: 发明申请, 专利号: CN104035088A, 申请日期: 2014-09-10, 公开日期: 2014-09-10 发明人: 谭久彬; 杨宏兴; 胡鹏程 Adobe PDF(1651Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:50/0  |  提交时间:2019/12/31 |